半導(dǎo)體及材料測(cè)試(Semiconductor and Material Test)
半導(dǎo)體加工與測(cè)試行業(yè)提供成熟的測(cè)試測(cè)量?jī)x器和解決方案，包括：半導(dǎo)體參數(shù)綜合測(cè)試系統(tǒng)、IV/CV/PIV測(cè)試系統(tǒng)、全自動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、手動(dòng)探針臺(tái)、飛針探針臺(tái)，等等。應(yīng)用場(chǎng)景包括：晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝后測(cè)試、元器件級(jí)測(cè)試。
